日置阻抗分析仪三种测量模式
日置阻抗分析仪能在阻抗范围和宽频率范围进行测量，它利用物体具有不同的导电作用，在物体表面加一固定的低电平电流时，通过阻抗计算出物体的各种器件、设备参数和性能优劣。日置阻抗分析仪主要适用对象为各类超声器件阻抗特性的测量，包括：压电陶瓷、换能器、超声清洗机、超声塑焊机、水声、磁致伸缩材料、超声粉碎机、超声雾化、超声洁牙、超声测距、超声乳化、超声除垢、超声马达等等所有使用超声的设备。
对压电器件的进行阻抗测量是正确使用器件的前提条件。对于压电器件，通过日置阻抗分析仪可以得到其主要参数，包括：谐振频率Fs、反谐振频率Fp、半功率点F1与F2、zui大导纳Gmax、静电容C0、动态电抗R1、动态电容C1、动态电感L1、自由电容CT、自由介电常数、机械品质因素Qm、机电耦合系数Keff、Kp、K31、K33等，并可以绘制压电器件的五种特性曲线（导纳特性图、阻抗特性图、导纳极坐标图、阻抗极坐标图、对数坐标图）。
日置阻抗分析仪具备高精度、速度，且经济型多功能，能够执行的元件测试。可搭配DC Bias 机型。人性化操作介面设计同步于趋势，简单操作快速导入产线。多项参数同时测是只需一次设定，一次同时显示。高精密值的量测数据的功效，为元件和材料不可或缺的测试仪器。
日置阻抗分析仪测量模式：
1、LCR模式：单频点条件下测量
2、分析仪模式：扫频测量,等效电路分析
3、连续测量模式：用所保存的条件下进行连续测量
阻抗分析仪能在阻抗范围和宽频率范围进行测量，它利用物体具有不同的导电作用，在物体表面加一固定的低电平电流时，通过阻抗计算出物体的各种器件、设备参数和性能优劣。阻抗分析仪在测量中实现高速及高稳定性兼顾，缩短间歇，提高产能。
阻抗分析仪能够以测量结果为基础推测5种等效电路模式的常数。 而且，可以通过模拟功能，使用推测结果或者任意的常数来显示频率特性的理想值。 此外，使用比较器功能，还能够确定测量结果是否在判定区域内。
