进阶分析功能 (选件功能)
传统上一直认为磁场和电场是同步同相并以90°伴生着，而两场成形的能量又垂直于两场的方向发放出去，如左图1所示，这是普遍用于各种研发测试的基础认知，而也普遍用于近场扫描应用上，所以近场扫描一般用单探头（磁场探头）来进行的。
不过在现今的产品上，密集布局的器件/芯片/多层电路等等所产生种种相互的影响如串扰/共振/耦合/谐波，使得产品在近场的情况下电磁波场域非常复杂与混乱，使得电场和磁场不是以90 °伴生着，导致真实情况可能如图2 ，磁场和电场的最高值分布在不位置，而最后发放出来的最强能量位置又可能在第三个位置上。
所以只用单个探头（磁场）的近场扫描系统，或许可以帮助处理60-70%的普遍问题,而有些场景和问题就不是单探头可以检查出来的，Aprel公司应用Poynting Vector (坡印廷)理论和双探头 (电场和磁场) 扫描方法，配合RF-Isight进阶分析软件，带出多种测试功能。
进阶扫描功能 (选件功能)
带场域流动方向
后向散射效应
成为产品内干扰源
