Aprel EM-ISight EMI杂讯近场扫描测试系统

EM-Isight 基本扫描功能

系统特点

• 扫描产品有效且准确找出噪声杂讯源头
• 六轴机械臂：平面 / 立体 / 多面扫描

360°旋转测量，捕获完整信号信息

场域方向图

• 大中小机械臂系统

最小步长：20um

• 视像定位
• 磁场 / 电场（选件）超宽频探头

矢量型探头

9k~6GHz / 9k-20GHz / 9k-40GHz

50G- 67.5GHz / 67-110GHz

• 高灵敏度的低频探头：

10Hz-300kHz / 300kHz-100MHz

• 系统和探头按国际法规 JIS T060-1-1-2 / IEC 60601-1-1-2. IEC61967 之标准测试程序校准

可作绝对值测量

• 修改前后对比差异性对比 (Delta Plot)
• 环境杂讯去除功能
• 2D/3D/4D磁场/电场分布显示，友好功能界面
• 自动报告输出，多种格式

选件功能

• 远场推算功能 (FFA)
• 进阶分析功能 (RF-Isight)
• 静电测试功能 (ESD Option)
• 敏感性测试功能 (De-Sense Option)
• 网分测试功能 (VNA Option)